x熒光鍍層測(cè)厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿(mǎn)足鍍層厚度測(cè)量的要求，且的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作更人性化、更方便。

 

　　工作原理：

　　x熒光鍍層測(cè)厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線(xiàn)的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

 

　　x熒光鍍層測(cè)厚儀可應(yīng)用于：

　　合金分析；鍍層厚度分析；電鍍液金屬離子分析；磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體元素分析；土壤污染元素分析；過(guò)濾器上的薄膜元素分析；塑料中的有毒元素分析。

 

　　使用優(yōu)勢(shì)：

　　1、超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測(cè)速度、超人性化界面；

　　2、易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結(jié)果；

　　3、有助于識(shí)別鍍層成分的創(chuàng)新型功能；

　　4、機(jī)身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實(shí)，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室；

　　5、按下按鈕的數(shù)秒之內(nèi)，即可得到有關(guān)樣件鍍層厚度的結(jié)果；

　　6、使用PC機(jī)和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗(yàn)結(jié)果證書(shū)；

　　7、用戶(hù)通過(guò)攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng)，可看到樣件測(cè)試位置，提升了用戶(hù)測(cè)試信心；

　　8、有X射線(xiàn)防護(hù)鎖，只有在封閉狀態(tài)下才發(fā)射X射線(xiàn)，安全、可靠的保證客戶(hù)使用。