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    X光鍍層測厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進行測厚的
    點擊次數:842 更新時間:2021-10-23
      X光鍍層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度,以及非磁性金屬基體上非導電覆層的厚度。本儀器具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產品質量的檢測儀器。儀器廣泛運用于工業生產測厚中,包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等,當然在實驗室精細測量中也有運用,包含航空航天、科研開發等范疇。
     
      X光鍍層測厚儀作業原理:
      測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。
      1、磁性法:當測量頭與覆蓋層接觸時,測量頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度;
      2、渦流法:利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場,當測量頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產生電渦流,并對測量頭中的線圈產生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
     
      產品優勢:
      1、對于壓敏膠,涂布/紙加工,煙草薄片,水性涂層,熱熔膠等材料,本產品擁有非接觸測量的優勢;
      2、在保證測量速度的基礎上,本產品能夠將被測物微小的厚度變化完整地呈現出來;
      3、本產品能擁有*的重復性,預計GRR能夠達到5%左右。
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